From: University of Illinois at Urbana-Champaign
Published December 14, 2017 09:31 AM

Los modelos climáticos de alta resolución presentan proyecciones alarmantes para EE. UU.

Al acercarse la segunda mitad del siglo, es probable que los Estados Unidos experimenten aumentos en el número de días con calor extremo, la frecuencia y duración de las olas de calor y la duración de la temporada de crecimiento. En respuesta, se prevé que las necesidades sociales, agrícolas y ecológicas aumentarán la demanda de recursos naturales ya tensos, como el agua y la energía. Los investigadores de la Universidad de Illinois han desarrollado nuevos modelos climáticos de alta resolución que pueden ayudar a los responsables de las políticas a mitigar estos efectos a nivel local.

En un artículo publicado en la revista Earth's Future, el profesor de ciencias atmosféricas Donald Wuebbles, el estudiante de posgrado Zach Zobel y los científicos del Laboratorio Nacional Argonne Jiali Wang y Rao Kotamarthi demuestran cómo el modelado de alta resolución puede mejorar las proyecciones climáticas futuras.

Muchos modelos climáticos usan una resolución espacial de cientos de kilómetros. Este enfoque es adecuado para los modelos de escala global que se ejecutan durante siglos en el futuro, pero no logran capturar las características de la tierra y el clima a pequeña escala que influyen en los eventos atmosféricos locales, dijeron los investigadores.

"Nuestros nuevos modelos funcionan a una resolución espacial de 12 km, lo que nos permite examinar los cambios localizados en el sistema climático en los EE. UU. Continentales", dijo Wübbles. "Es la diferencia entre poder resolver algo tan pequeño como el condado de Champaign versus todo el estado de Illinois: es una gran mejora".

Imagen: Los investigadores de ciencias atmosféricas de la Universidad de Illinois Zach Zobel (zquierda) y el profesor Donald Wuebbles dirigieron un equipo que desarrolló nuevos modelos de alta resolución que pueden ayudar a dirigir las iniciativas de políticas climáticas a nivel local. 

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Crédito de la imagen: por L. Brian Stauffer

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